薄层,固体材料介电导电特性量测系统
薄层,固体材料介电导电特性量测系统

DAK-TL2 薄层材料介电量测系统 用于评估表征有限厚度的固体和半固体材料(0.1-10mm厚度)的介电性能以及微量液体(10-50ml)的液体样品。

该系统基于开放式同轴探头,并配备了用于自动测量样品厚度和施加力的电子设备,以实现高重复性测量。

例如:柔性材料、皮革、软塑料等等。

另可根据频段范围和测试材料的大小与类型配置不同的探头

准确测量表征液体、固体、粉末和半固体在4MHz~67GHz宽频率范围内的相对介电常数(ε‘ε“)的实部和虚部。

提供高精度介电参数测量(介电常数、电导率、损耗角正切)



DAK12-TL2

DAK3.5-TL2

DAK1.2E-TL2

频率范围

4MHz-600MHz

200MHz-20GHz

5GHz-67GHz

外导体内径

12mm

3.5mm

1.2mm

法兰直径

48mm

18mm

18mm

压力范围

0-1000N

待测物要求

固体:厚度0.1-10mm  平整度:N5级别        液体:10-50ml

量测精度与范围

 重复性精度:±1%    εr:1-800       tan δ: 0.001-10

校准依据

ILAC-MRAISO/IEC 17025 by Swiss   Accreditation Service(SCS 108)

应用场景

电子产品外壳、电子元件介电材料、小型生物样本、图层、基板、生化样品


图片3.png


银河集团GALAXY
网站地图